Si-Ware Systems 的 FT-IR 光谱仪在测试、测量、计量类别中荣获久负盛名的棱镜奖

世界上第一台单芯片 FT-IR 光谱仪在测试、测量、计量方面获胜

埃及开罗 — Si-Ware Systems（SWS）是为工业和消费类应用提供基于IC和MEMS的解决方案的主要提供商，凭借其测试、测量、计量领域的微机电系统傅立叶红外光谱仪获得了久负盛名的棱镜奖。

凭借基于单芯片 MEMS 的单片迈克尔逊干涉仪、创新的专用电路和多功能软件，SWS 的 MEMS FT-IR 光谱仪是世界上第一款单芯片 FT-IR 光谱仪。微型化的低成本模块可以集成到各种系统中，用于需要定性和/或定量材料分析的应用。

Prism 光子学创新奖是一项领先的国际竞赛，旨在表彰市场上最好的新光子产品。多年来，棱镜奖已收到来自全球超过35个国家的申请。申请由领先的行业专家、风险投资家、杰出人士和远见者组成的小组进行评审。棱镜奖被德国OptecNet评为 “光子学奥斯卡”，旨在表彰光子学行业的精英。

SWS 入围了两个类别的决赛：光学和光学元件以及测试、测量、计量。这些奖项是昨晚在旧金山西部光电会议期间的宴会上宣布和颁发的。

傅立叶红外光谱仪由一个尺寸为 1 x 1 cm2 的 MEMS 芯片组成，包含所有光学组件。电子接口是一个独立的ASIC，由SWS的ASIC解决方案部设计和生产。该系统的附加组件是光电探测器、光纤和软件。初始系统包含在一个模块中，该模块通过 USB 接口供电，功耗低于 150 mA。该模块尺寸为 8 x 6 x 3 cm3，重量小于 150 g。所有这些使其成为世界上最小、功耗最低的 FT-IR 光谱仪。

SWS光学微机电系统技术部经理巴萨姆·萨达尼博士说：“SWS很荣幸获得这个奖项，其微机电系统傅立叶红外光谱仪被公认为行业领先的新产品。”“这种认可证实了SWS的傅立叶红外光谱仪代表了光谱学的模式转变，为真正的便携式和手持式光谱仪提供了实现”

傅立叶红外光谱仪是第一款基于SWS的硅集成微光学系统技术（SiMost™）开发和发布的产品。SiMost 是一个完整的平台，支持使用经过验证的 MEMS 组件创建单片光学系统。可以使用深度反应离子蚀刻 (DRIE) 在 SOI 晶圆上绘制和蚀刻多个光学 MEMS 结构。然后将这些结构进行晶圆级封装和切片，以创建单芯片光学系统。

傅立叶红外光谱仪 SWS62211-P 的评估模块现已在 SWS 上市。如果您有兴趣评估 FT-IR 光谱仪，请联系 SWS。

Photonics West 的 SWS

SWS将于本周至今天（2月6日）在旧金山举行的2014年西部光电展上展示其微机电系统傅立叶红外光谱仪。SWS 的展位位于莫斯康中心北大厅 D（#4644 展位）。

关于 SWS

SWS 是一家独立的无晶圆厂半导体公司，提供广泛的产品设计和开发解决方案、定制 ASIC 开发和供应以及标准产品。SWS 有三个部门：ASIC 解决方案 — 微机电系统接口 ASIC；时序产品 — 全硅振荡器；以及光学 MEMS 技术 — MOEMS 产品。ASIC解决方案部门提供定制的ASIC开发和供应，专门从事微机电系统接口。定时产品部门在其全硅自补偿振荡器（SCOTM）中开发了一项突破性技术。光学微机电系统技术部门为其提供了独特的平台——硅集成微光学系统技术（SimostTM），允许在硅上创建多个光学组件。欲了解更多信息，请访问 http://www.si-ware.com。

媒体垂询，请发送电子邮件至 press@si-ware.com | 查看所有新闻稿

‍